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半导体检测设备

3D光学测量系统

产地:美国
品牌:Bruker


ContourGT光学轮廓仪系列用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪,结合先进的64位多核操作和分析处理软件,白光干涉仪(WLI)硬件和良好的操作简易性。拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有较高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中直观的3D表面计量平台。

1. 0.5倍至200倍的放大倍率,在测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征
2. 任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了较高的测量灵活性
3. 高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性
4. 能够测量从粗糙的到光滑的,坚硬的到柔软的,黏性的,弯曲的表面以及各种场合下难于测量的表面
5. 多核处理器和 64 位软件使数据分析速度提高十倍以上
6. 从研发到量产,多型号可选


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