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半导体检测设备

双面测试探针台

产地:美国
品牌:SemiProbe


SemiProbe的模块化结构设计,可以使探针台在一个基本平台的基础上不断的进行升级,且升级可在客户现场经行,机台不需返厂。由手动探针台升级为半自动探针台,半自动探针台升级为全自动探针台,或者6”升级为8”,8”升级为12”,增加密闭测试仓,增加高低温等。

直流探针座和RF探针座通用,用户只要一种探针座,换上直流或RF探针,即可做不同的测试,方便又节省成本。同时探针座和业界所有主流的各种探针兼容,也大大降低了用户的使用成本。


该设备主要技术规格:
1.  特制的可同时做双面扎针测试
2.  系统可配置成手动或半自动
3.  主要应用领域:器件性能、MEMS、光电子学、纳米研究、光伏电池、失效分析及材料等相关领域。
4.  可做直流和微波测试
5.  系统可在客户现场升级
6.  主要部件可依据实际要求定制。


如需了解不同规格探针台更详细的信息,敬请与我们联系。